在電子封裝領(lǐng)域，焊點(diǎn)的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的性能和壽命。隨著B(niǎo)GA（球柵陣列封裝）、CSP（芯片級(jí)封裝）和WLCSP（晶圓級(jí)芯片尺寸封裝）等技術(shù)的廣泛應(yīng)用，焊點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度和界面結(jié)合質(zhì)量成為關(guān)鍵評(píng)估指標(biāo)。錫球推力測(cè)試（Solder Ball Shear Test）作為一種高效的焊點(diǎn)可靠性檢測(cè)方法，能夠精確測(cè)量焊球與焊盤(pán)之間的抗剪切強(qiáng)度，為焊接工藝優(yōu)化和產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證提供重要依據(jù)。

科準(zhǔn)測(cè)控小編將為您詳細(xì)介紹錫球推力測(cè)試的原理、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試設(shè)備及操作流程，幫助您全面掌握這一關(guān)鍵測(cè)試技術(shù)。

一、測(cè)試原理

錫球推力測(cè)試通過(guò)施加水平剪切力于焊球根部，測(cè)量其與焊盤(pán)分離時(shí)的最大剪切力，從而評(píng)估焊點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度和界面結(jié)合質(zhì)量。測(cè)試過(guò)程中，剪切工具以恒定速度推動(dòng)焊球，記錄力-位移曲線，并通過(guò)峰值力值判斷焊點(diǎn)的可靠性。

關(guān)鍵參數(shù)：

剪切高度：通常設(shè)置為焊球高度的15%-25%（如15 μm），以確保剪切力作用于焊球與焊盤(pán)的界面。

剪切速度：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)（如JESD22-B117）推薦，一般為100-500 μm/s（常用200 μm/s）。

失效模式：包括焊球斷裂、界面剝離或混合失效，需通過(guò)顯微鏡或SEM進(jìn)一步分析。

二、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

錫球推力測(cè)試需遵循以下國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，確保數(shù)據(jù)可比性和可靠性：

1、JESD22-B117（由JEDEC制定）

規(guī)定剪切工具尺寸、剪切高度、測(cè)試速度等核心參數(shù)。

明確數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)要求（如樣本量≥20個(gè)焊球）。

2、IPC-7095（BGA設(shè)計(jì)與組裝指南）

補(bǔ)充焊接工藝對(duì)推力測(cè)試的影響，如回流焊曲線、焊膏選擇等。

3、企業(yè)內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)

部分企業(yè)根據(jù)產(chǎn)品需求制定更嚴(yán)格的剪切力閾值（如工業(yè)級(jí)BGA要求單球剪切力≥5N）。

三、測(cè)試設(shè)備

1、Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)

Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)是專為微電子封裝可靠性測(cè)試設(shè)計(jì)的高精度設(shè)備，特別適合錫球推力測(cè)試需求。

1. 設(shè)備特點(diǎn)

高精度：全量程采用24Bit超高分辨率數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

多功能：支持拉力、推力、剪切力等多種測(cè)試模式，適用于不同封裝形式。

智能化操作：配備自動(dòng)數(shù)據(jù)采集、SPC統(tǒng)計(jì)分析及一鍵報(bào)告生成功能。

安全設(shè)計(jì)：獨(dú)立安全限位、自動(dòng)模組識(shí)別和防誤撞保護(hù)，避免樣品損壞。

2. 夾具系統(tǒng)

多種規(guī)格的剪切工具（適用于不同尺寸焊球）。

鉤型拉力夾具，適用于焊球垂直拉拔測(cè)試。

定制化夾具解決方案，滿足特殊測(cè)試需求。

四、測(cè)試流程

1. 樣本制備

切割BGA樣品至單個(gè)焊點(diǎn)單元，或使用未組裝的空白基板。

清潔表面，避免污染物影響測(cè)試結(jié)果。

2. 設(shè)備校準(zhǔn)

在顯微鏡下調(diào)整剪切工具位置，確保對(duì)準(zhǔn)焊球根部。

設(shè)置剪切高度（如15 μm）和速度（200 μm/s）。

3. 執(zhí)行測(cè)試

啟動(dòng)設(shè)備，工具水平推動(dòng)焊球至脫落，記錄力-位移曲線。

保存峰值力值（N）及失效位置圖像。

4. 數(shù)據(jù)分析

統(tǒng)計(jì)20個(gè)以上焊球的剪切力，計(jì)算均值、標(biāo)準(zhǔn)差及CpK。

結(jié)合失效模式（如界面斷裂或焊球內(nèi)聚失效）評(píng)估工藝缺陷。

以上就是小編介紹的有關(guān)于錫球推力測(cè)試相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)?lái)幫助。如果您還對(duì)推拉力測(cè)試機(jī)怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書(shū)，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測(cè)試儀操作規(guī)范、使用方法和測(cè)試視頻，焊接強(qiáng)度測(cè)試儀使用方法和鍵合拉力測(cè)試儀等問(wèn)題感興趣，歡迎關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言?！究茰?zhǔn)測(cè)控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測(cè)試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問(wèn)題及解決方案。